한국표면공학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference)
- 한국표면공학회 2015년도 춘계학술대회 논문집
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- Pages.113-113
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- 2015
CdTe 후막을 이용한 직접변환방식 X-선 검출기 물성평가
Investigation of CdTe thick films for direct conversion type X-ray detector
초록
본 연구에서는 thermal evaporation법을 이용하여 제작한 CdTe 후막의 미세구조, 전기적 특성 및 X-선 조사에 따른 특성을 비교분석하였다. 기판온도를
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