Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)
권호 표지

A study on IEC61850 test using TTCN-3

TTCN-3를 이용한 IEC61850 테스트 연구

  • Kim, HwiMin (Department of Computer Engineering in Myongji University) ;
  • Sim, MinChan (Department of Computer Engineering in Myongji University) ;
  • Un, KoayngHi (Department of Computer Engineering in Myongji University) ;
  • Yoo, JongGeol (Korea Testing Laboratory) ;
  • Jang, HyukSoo (Department of Computer Engineering in Myongji University)
  • 김휘민 (명지대학교 컴퓨터공학과) ;
  • 심민찬 (명지대학교 컴퓨터공학과) ;
  • 은광희 (명지대학교 컴퓨터공학과) ;
  • 유종걸 (한국산업기술시험원) ;
  • 장혁수 (명지대학교 컴퓨터공학과)
  • Published : 2015.07.15
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Abstract

현재 국제 표준 IEC61850은 Edition 2.0 이 발간되면서 기존 Edition 1.0에서 불가했던 Live 시험이 가능하게 되었다. IEC 61850 Edition 2.0을 따르는 장비를 외국 제조업체들과 국내 업체들은 개발 진행 중이며, UCAIug는 IEC 61850 Ed2.0 표준 시험 절차서를 발표한 바 있다. 그러나 사용자가 원하는 순서에 따라 응용 프로그램이 동작하는지 확인하는 시험 시나리오를 검증할 수 있는 기반은 충분하지 못한 상태이다. 본 논문에서는 Edition2.0이 적용된 IED를 시험하는 시나리오를 작성하고, TTCN-3를 이용하여 작성된 시나리오를 수행하는 시험 시스템을 설계하고자 한다.

Keywords