A Study on Technology Level Evaluation based on Patent without Multicollinearity

특허기반의 기술수준평가 모형의 다중 공선성을 제거한 기술수준 평가모형 제안

Cho, Il-Gu (Institute for Information and communications Technology Promotion) ;
Oh, Jong-Hak (Wintils Global)

기존 전문가 델파이 평가를 대체하는 특허기반 기술수준 평가모형들의 독립변수로 활용되는 특허활동도, 특허집중도, 특허시장력, 특허경쟁력 및 특허영향력의 다중공선성이 존재하여 이를 제거함으로써 보다 신뢰성이 높은 기술수준 평가모형을 실증하여 제안하고자 한다.