태양전지용 실리콘 웨이퍼의 검사를 위한 근적외선의 투과 및 반사특성 분석에 관한 연구

Characteristics Analysis of Near-Infrared Transmission and Reflection for the Inspection of Silicon Wafers for Solar Cell

  • 김현욱 (한국교통대학교 대학원) ;
  • 김경범 (한국교통대학교 항공기계설계학과)
  • 발행 : 2013.05.29