Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference (한국정밀공학회:학술대회논문집)
- 2013.05a
- /
- Pages.485-486
- /
- 2013
- /
- 2005-8446(pISSN)
A Study on Development of Fine Pitched Socket for testing Semiconductor Device using PDMS
PDMS를 이용한 반도체 소자 검사용 미세피치 소켓 개발에 관한 연구
- Published : 2013.05.29