A study of interconnects Electroless Copper Surface

배선용 무전해 동 피막에 관한 연구

  • 허진영 (한국생산기술연구원 열표면기술센터) ;
  • 이홍기 (한국생산기술연구원 열표면기술센터) ;
  • 이호년 (한국생산기술연구원 열표면기술센터)
  • Published : 2012.05.31

Abstract

본 연구는 반도체 배선형성에 있어 무전해 방식의 동(Electroless Copper) 피막특성에 관한 연구이다. 반도체 동 배선을 습식 무전해 도금공정을 이용하여 형성하였고, 이의 피막에 대하여 기본적인 표면 및 단면 조직이나 결정구조, 밀도, 석출속도, 밀착성 등을 분석하였다. 이어, 배선용 특성으로 요구되는 배선 비저항과 열처리에 따른 저항변화를 실험을 통하여 고찰하였고, 표면조도 및 조직구조에 따라 EM에 대한 영향성을 고찰하였다. 이어 AR3.0에 배선폭 30nm급의 초미세 배선상에서의 Gap-fill 상태를 확인한 결과 void없이 충진됨을 확인할 수 있었다.

Keywords