Quality Metrics for RFID Test Dataset to Evaluate RFID Middleware

RFID 미들웨어 평가를 위한 테스트 데이터셋의 품질 지표

  • Ryu, Woo-Seok (Department of Computer Engineering, Pusan National University) ;
  • Kwon, Joon-Ho (Institute of Logistics Information Technology, Pusan National University) ;
  • Hong, Bong-Hee (Department of Computer Engineering, Pusan National University)
  • 류우석 (부산대학교 컴퓨터공학과) ;
  • 권준호 (부산대학교 차세대물류 IT 기술연구사업단) ;
  • 홍봉희 (부산대학교 컴퓨터공학과)
  • Published : 2012.06.22

Abstract

RFID 미들웨어의 평가를 위한 방법으로서, 테스트 데이터셋을 이용한 시뮬레이션은 일반적으로 사용되는 평가 방법이다. 태그 식별자에 따라 순차생성된 가상 데이터셋이나 랜덤 생성된 데이터셋의 경우 미들웨어의 단순 처리량을 평가하기에는 유용하나 미들웨어의 정확성이나 실행 가능성를 평가하기에는 한계가 있다. 테스트 데이터셋은 실제 리더에서 생성된 데이터셋과 매우 유사하여야 함에도 불구하고, 테스트 데이터셋의 품질 기준이 정의되어 있지 않음에 따라 테스트 데이터셋이 얼마만큼 실제 데이터셋과 유사한 지를 평가하기가 어려운 문제가 있다. 이를 위해 본 논문에서는 RFID 미들웨어의 평가에 사용되는 테스트 데이터셋의 품질을 평가하기 위한 품질 지표를 제안한다. 제안하는 품질 지표는 실제 RFID 리더에 태그가 통과할 때 생성되는 데이터 셋을 기반으로 하여 정의하였으며, RFID 무선 인식의 고유의 특성, 즉 중복성과 불확실성을 수치화해서 표현하는 특징이 있다. 또한 제안한 품질 지표를 실제 RFID 리더를 통해 생성한 데이터셋에 적용하여 비교 검토함으로써 품질 지표의 유용성을 입증한다.

Keywords

Acknowledgement

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