Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference (한국전기전자재료학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers (한국전기전자재료학회)
권호 표지

Researching the Control Methodology for Automatic Test Equipment Apparatus for Test Time Reduction

Test Time감축을 위한 자동 검사 설비 제어방법에 관한 연구

  • Byun, Do-Hoon (Samsung Institute of Technology University) ;
  • Choi, S.C. (Samsung Institute of Technology University) ;
  • Yun, B.H. (Samsung Electronics Foundry PE/TEST)
  • Published : 2010.06.16
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Abstract

반도체 산업은 지속적인 design rule 감소로 인해 직접도 및 Pin Count가 점점 증가함에 따라 보증해야할 회로의 수와 기능이 더불어 증가하고 있으며, 그 중 Test Cost 감소 방법 확보가 시급하게 되었다. 이에 따라 Test Cost 감소와 직결된 Test Time 감소 방법이 다양하게 제시되고 연구되고 있다. 본 논문은 Test Time의 한 부분인 반도체 검사 장비 (Automatic Test Equipment)의 효율적인 제어 방법을 제공함으로써, 관련 분야의 이해를 돕고자 한다.

Keywords