Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference (한국정보처리학회:학술대회논문집)
- 2010.11a
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- Pages.1625-1627
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- 2010
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- 2005-0011(pISSN)
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- 2671-7298(eISSN)
DOI QR Code
A Scheme of Kernel Testing for the Development of OSEK/VDX OS
OSEK/VDX 운영체제 개발을 위한 커널 테스팅 기법
- Rim, Seong-Rak (Dept. of Computer Engineering, Hoseo University) ;
- Kim, Jae-Gu (Dept. of Computer Engineering, Hoseo University) ;
- Yu, Young-Chang (Falinux co.,Ltd.)
- Published : 2010.11.12
Abstract
OSEK/VDX 운영체제를 개발하는 과정에서 커널 이미지를 생성하여 임베디드 보드에 업로드하고, 이를 실행시켜보는 일련의 반복적인 작업이 요구된다. 본 논문에서는 이러한 반복적인 작업들을 일괄적으로 처리할 수 있는 보다 편리한 커널 테스팅 기법을 제시한다. 제시한 기법의 타당성을 검토하기 위하여 ARM7TDM 가 탑재된 EZ-AT7 임베디드 보드에 OSEK/VDX 커널 이미지를 적용하여 실험하였다.
Keywords