Analysis of subthreshold region transport characteristics according to channel doping for DGMOSFET using MicroTec

MicroTec을 이용한 DGMOSFET의 채널도핑에 따른 문턱전압이하영역 특성분석

  • Han, Ji-Hyung (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Jung, Hak-Kee (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Lee, Jong-In (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Jeong, Dong-Soo (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Kwon, Oh-Shin (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University)
  • Published : 2010.10.27

Abstract

In this paper, the subthreshold characteristics have been alanyzed using MicroTec4.0 for double gate MOSFET(DGMOSFET). The DGMOSFET is extensively been studing since it can reduce the short channel effects due to structural characteristics. We have presented the short channel effects such as subthreshold swing and threshold voltage for DGMOSFET, using MicroTec, semiconductor simulator. We have analyzed for channel length, thickness and width to consider the structural characteristics for DGMOSFET. The subthreshold swing and threshold voltage have been analyzed for DGMOSFET using MicroTec since MicroTec is well verified as comparing with results of the numerical three dimensional models.

본 연구에서는 MicroTec4.0을 이용하여 더블게이트 MOSFET의 문턱전압이하특성을 채널도핑농도의 변화에 따라 분석하였다. DGMOSFET는 구조상 단채널효과를 감소시킬 수 있다는 장점 때문에 많은 연구가 진행중에 있다. 이에 DGMOSFET에서 단채널효과로서 잘 알여진 문턱전압이하 스윙 및 문턱전압 등을 반도체소자 시뮬레이이터인 MicroTec을 이용하여 분석하고자 한다. 나노소자인 DGMOSFET의 구조적 특성도 함께 고찰하기 위하여 채널의 두께, 길이, 폭 등 크기요소에 따라 분석하였다. 본 논문에서 사용한 MicroTec 프로그램은 여러 논문에서 수치해석학적 값과 비교하여 그 타당성이 입증되었으므로 이 모델을 이용하여 DGMOSFET의 문턱전압이하특성을 분석하였다.

Keywords