Temperature Dependency of Tunnel Barrier Enginnered (TBE) Charge Trap Flash (CTF) Memory

• O, Se-Man ;
• Park, Gun-Ho ;
• O, Jun-Seok ;
• Jo, Yeong-Hun ;
• Park, Seung-Yeong ;
• Jeong, Jong-Wan ;
• Lee, Yeong-Hui ;
• Jeong, Hong-Bae ;
• Jo, Won-Ju

• 오세만 (광운대학교 전자재료공학과) ;
• 박군호 (광운대학교 전자재료공학과) ;
• 오준석 (광운대학교 전자재료공학과) ;
• 조영훈 (한국기초과학지원연구원) ;
• 박승영 (한국기초과학지원연구원) ;
• 정종완 (세종대학교 나노신소재공학과) ;
• 이영희 (광운대학교 전자재료공학과) ;
• 정홍배 (광운대학교 전자재료공학과) ;
• 조원주 (광운대학교 전자재료공학과)

• Published : 2009.02.11

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