이온빔 스퍼터링을 이용해 제작한 $SiO_2$/Zr dots/$SiO_2$ 구조의 비휘발성 메모리 특성

• 홍승휘 (경희대학교 물리학과) ;
• 김민철 (경희대학교 물리학과) ;
• 최석호 (경희대학교 물리학과) ;
• 김경중 (한국표준과학연구원 나노소재측정센터)

• Hong, Seung-Hwi ;
• Kim, Min-Cheol ;
• Choe, Seok-Ho ;
• Kim, Gyeong-Jung

• 발행 : 2009.08.19

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