Analysis of the Solar cell IV characteristic curve Process using MicroTec Tool

MicroTec을 이용한 태양전지의 IV특성곡선 분석

  • Han, Jihyung (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Jung, Hakkee (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Jeong, Dongsoo (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Lee, Jongin (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Kwon, Ohshin (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University)
  • 한지형 (군산대학교 전자정보공학부) ;
  • 정학기 (군산대학교 전자정보공학부) ;
  • 정동수 (군산대학교 전자정보공학부) ;
  • 이종인 (군산대학교 전자정보공학부) ;
  • 권오신 (군산대학교 전자정보공학부)
  • Published : 2009.05.29

Abstract

본 연구에서는 MicroTec을 이용하여 태양전지의 IV특성곡선을 분석하였다. 태양전지의 IV특성곡선은 태양전지의 효율을 나타낸다. 효율을 높이기 위하여 전극이 직접 접촉하는 부분에 고농도의 형태를 취하고 나머지 전극이 없는 부분에 저농도 도핑으로 전면을 처리한다. 이때 고농도 층을 과대하게 불순물을 주입할 경우 전극부분의 재결합률이 상승하여 에너지 변환 손실로 이어진다. 본 연구에서는 태양전지의 최대효율을 얻을 수 있는 도핑의 농도를 결정하여 이의 IV특성곡선을 비교 분석 하고자한다.

Keywords