Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference (한국전기전자재료학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers (한국전기전자재료학회)
권호 표지

Thermal evaporation을 이용해 성장 온도에 따른 ZnO nanorod의 특성

  • 이혜지 (대구가톨릭대학교 전자공학과) ;
  • 김동영 (대구가톨릭대학교 전자공학과) ;
  • 김지환 (대구가톨릭대학교 전자공학과) ;
  • 김해진 (대구가톨릭대학교 전자공학과) ;
  • 손선영 (대구가톨릭대학교 전자공학과) ;
  • 김종재 (대구가톨릭대학교 전자공학과) ;
  • 김화민 (대구가톨릭대학교 전자공학과)
  • Published : 2009.11.12
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Abstract

Zinc Oxide (ZnO) nanorod were grown on Si wafer by a thermal evaporation method at various temperatures. And their structure and optical properties were measured using Photoluminescence(PL), Scanning electron microscopy(SEM), and X-ray diffraction(XRD) analysis.

Keywords