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Development Testing/Evaluating Method about Residual Data Protection Technology based on the MFP

디지털 복합기의 잔여정보 완전삭제 기능 시험/평가방법론 개발

  • Kim, Chan-Il (Policy Support Team Korea Information Security Agency) ;
  • Lee, Kwang-Woo (Dept of Electrical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University) ;
  • Cho, Young-Jun (Dept of Electrical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University) ;
  • Kim, Dong-Keun (SW R&D Group1 Digital Printing Division, SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.) ;
  • Sim, Wan-Tae (Policy Support Team Korea Information Security Agency) ;
  • Kim, Seung-Joo (Dept of Electrical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University)
  • 김찬일 (한국정보보호진흥원 평가기획팀) ;
  • 이광우 (성균관대학교 전자전기컴퓨터공학과) ;
  • 조영준 (성균관대학교 전자전기컴퓨터공학과) ;
  • 김동근 (삼성전자 프린터사업부 S/W개발 1그룹) ;
  • 심원태 (한국정보보호진흥원 평가기획팀) ;
  • 김승주 (성균관대학교 전자전기컴퓨터공학과)
  • Published : 2009.04.23

Abstract

현재 기업 및 공공기관에서는 산업기술 유출 방지를 위해 잔여데이터 완전삭제 등 보안기능이 구현된 디지털 복합기를 사용하고 있다. 이에 따라 국제적으로 특히 일본 평가기관들 중심으로 공통평가기준으로 평가 인증 많이 받고 있다. 그러나 국내에서는 MFP에 대한 인식과 평가 노하우(know-how)의 부족하여 평가 인증 방법에 미비한 상태이다, 본 논문에서는 MFP의 핵심 중요 기술인 잔여정보 완전삭제 기능을 공통평가기준으로 평가할 수 있는 국내 시험/평가 방법론을 제시하고자 한다.

Keywords