Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2009.07a
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- Pages.2057_2058
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- 2009
A Development of Thickness Meter for Conductive Thin Film
전도성 박막의 두께 측정기 개발
- Kang, Jeon-Hong (KRISS) ;
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Yu, Kwang-Min
(KRISS) ;
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Kim, Han-Jun
(KRISS) ;
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Han, Sang-Ok
(Chungnam National University)
- Published : 2009.07.14
Abstract
반도체 및 평판표시장치(Flat Panel Display) 공정에서 필수적으로 사용되는 박막 두께 측정기를 개발하였다. 측정방식은 FPP법의 dual configuration 측정원리를 적용하였으며 측정범위는 수 nm ~수십
Keywords