Proceedings of the Optical Society of Korea Conference (한국광학회:학술대회논문집)
- 2008.02a
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- Pages.385-386
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- 2008
Accurate Measurement of Optical Anisotropy and Optic Axis for Alignment Layer of LCD by Using Ellipsometry
타원법을 이용한 LCD 배향막의 배향축 및 광학 이방성 정밀 측정
- Byeon, Yeong-Seop ;
- Choe, Jung-Gyu ;
- Ryu, Jang-Wi ;
- Sin, Yu-Sik ;
- Lee, Jae-Heun ;
- Kim, Sang-Jun ;
-
Kim, Sang-Yeol
- 변영섭 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
- 최중규 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
- 류장위 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
- 신유식 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
- 이재흔 ((주)서울반도체) ;
- 김상준 ((주)엘립소테크놀러지) ;
-
김상열
(아주대학교 분자과학기술학과)
- Published : 2008.02.01
Abstract
Keywords