미세 위상지연 정밀 측정을 사용한 LCD 배향막의 배향 특성 결정

Determination of photo-alignment characteristics for LCD alignment layers with measurement of low phase retardation

  • 신유식 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
  • 류장위 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
  • 변영섭 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
  • 김용기 (삼성전자 첨단기술연수소) ;
  • 김상열 (아주대학교 분자과학기술학과)
  • 발행 : 2008.07.01