형광 수명 측정 시스템을 위한 평균 지연 방법에 대한 평가

Evaluation of mean-delay method for Fluorescence Lifetime Measurement System

  • 원영재 (광주과학기술원 정보기전공학부) ;
  • 문석배 (광주과학기술원 정보기전공학부) ;
  • 송우섭 (광주과학기술원 정보기전공학부) ;
  • 김덕영 (광주과학기술원 정보기전공학부)
  • 발행 : 2008.07.01