Removal of Photoresist Residue on a Wafer Surface Using an Excimer Laser

엑시머레이저를 이용한 웨이퍼 표면의 PR제거

  • 백지영 (한국생산기술연구원 환경에너지본부) ;
  • 송재동 (한국생산기술연구원 환경에너지본부) ;
  • 이명화 (한국생산기술연구원 환경에너지본부) ;
  • 정훈 (한국생산기술연구원 환경에너지본부) ;
  • 김상범 (한국생산기술연구원 환경에너지본부) ;
  • 김경수 (한국생산기술연구원 환경에너지본부) ;
  • 김성현 (고려대학교 화공생명공학과)
  • Published : 2008.04.24