Annual Conference of KIPS (한국정보처리학회:학술대회논문집)

  • 2008.05a
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  • Pages.327-330
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  • 2008
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  • 2005-0011(pISSN)
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  • 2671-7298(eISSN)
Korea Information Processing Society (한국정보처리학회)
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Generation Technique of MC/DC Test Cases for Requirement Diagrams

도형 요구사항의 MC/DC 테스트 케이스 생성 기법

  • Won, Jong-Seob (Graduate School of Information and Communication, Ajou University) ;
  • Choi, Kyung-Hee (Graduate School of Information and Communication, Ajou University) ;
  • Jung, Ki-Hyun (Division of Electronics Engineering, Ajou University)
  • 원종섭 (아주대학교 정보통신전문대학원) ;
  • 최경희 (아주대학교 정보통신전문대학원) ;
  • 정기현 (아주대학교 전자공학부)
  • Published : 2008.05.16
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Abstract

본 논문은 도형 요구사항(Requirement Diagram)을 기반으로 MC/DC를 만족하는 테스트 케이스를 생성하는 방법을 기술한다. MC/DC는 테스트 케이스의 여러 커버리지 중 테스트 케이스의 질 측면과 효율성 측면에서 우수하다. 하지만 MC/DC는 구조적 커버리지(Structural Coverage)로써 이를 바로 도형 요구사항에 대해 적용시킬 수 없다. 그러므로 MC/DC를 기반으로 도형 요구사항에 적용하는 방법을 제시한다.

Keywords