Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2008.07a
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- Pages.1313-1314
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- 2008
A study on the variation of time and temperature to analysis a mis-firing in AC-PDP
AC-PDP의 오방전 분석을 위한 경시변화와 온도에 따른 패널 특성 연구
- Kang, Kyung-Il (Pusan National University Department of Electrical Engineering) ;
- Jang, Jin-Ho (Pusan National University Department of Electrical Engineering) ;
- Kim, Hyun-Gyu (Pusan National University Department of Electrical Engineering) ;
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Lee, Ho-Jun
(Pusan National University Department of Electrical Engineering) ;
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Lee, Hae-Jun
(Pusan National University Department of Electrical Engineering) ;
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Kim, Dong-Hyun
(Pusan National University Department of Electrical Engineering) ;
- Cho, Sung-Yong (Pusan National University Department of Electrical Engineering)
- 강경일 (부산대 대학원 전자전기공학과) ;
- 장진호 (부산대 대학원 전자전기공학과) ;
- 김현규 (부산대 대학원 전자전기공학과) ;
-
이호준
(부산대 대학원 전자전기공학과) ;
-
이해준
(부산대 대학원 전자전기공학과) ;
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김동현
(부산대 대학원 전자전기공학과) ;
- 조성용 (부산대 대학원 전자전기공학과)
- Published : 2008.07.16
Abstract
현재 AC-PDP의 문제점 중 하나인 오방전 개선을 위한 연구가 진행되고 있다. 본 연구에서는 AC-PDP의 오방전 분석을 위해서 오방전 발생 메커니즘을 분석하고, 패널의 시간 변화에 대한 특성과 고온, 저온에서의 패널 특성을 파악하기 위해 휘도, 방전개시전압, discharge time lag 등을 측정하였다. 그리고 sustain pulse의 수를 조절함으로써 패널내의 priming 조건을 제어하면서 오방전 발생 확률을 수치적으로 측정하였다. 패널의 aging시간에 따라 MgO sputtering 등으로 인한 방전 공간의 변화로 방전개시전압의 변화를 관찰하였으며 그로 인한 오방전 발생이 증가함을 알 수 있었다.
Keywords