TEM 토모그라피를 이용한 나노와이어의 구조 및 형상 규명
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Kim, Han-Seong
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- Yun, Sang-Won (KIST) ;
- Kim, Gyu-Hyeon (KIST) ;
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An, Jae-Pyeong
(KIST) ;
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Park, Jeong-Hui
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김한성
(고려대학교 소재화학과) ;
- 윤상원 (한국과학기술연구원 특성분석센터) ;
- 김규현 (한국과학기술연구원 특성분석센터) ;
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안재평
(한국과학기술연구원 특성분석센터) ;
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박정희
(고려대학교 소재화학과)
- Published : 2007.05.31
Abstract
Keywords