A Locality-Based Log Block Replacement Technique for NAND Flash Memory

NAND 플래시 메모리를 위한 지역성 기반의 로그 블록 교체 기법

  • Lee, SungJin (School of Computer Science and Engineering, Seoul National University) ;
  • Kim, YoungJin (School of Computer Science and Engineering, Seoul National University) ;
  • Kim, Jihong (School of Computer Science and Engineering, Seoul National University) ;
  • Shin, Dongkun (School of Information and Communications Engineering, Sungkyunkwan University)
  • 이성진 (서울대학교 컴퓨터공학부) ;
  • 김영진 (서울대학교 컴퓨터공학부) ;
  • 김지홍 (서울대학교 컴퓨터공학부) ;
  • 신동군 (성균관대학교 정보통신공학부)
  • Published : 2007.11.09

Abstract

플래시 메모리는 휴대폰, MP3 플레이어, 개인휴대정보단말기(PDA), 휴대용 멀티미디어 플레이어(PMP), 디지털 카메라 및 캠코더와 같은 이동성이 강한 소형기기에서 가장 많이 사용되는 저장 매체이다. 최근 대용량의 값싼 플래시 메모리가 등장하면서 랩톱이나 데스크톱과 같은 일반적인 컴퓨팅 환경을 지닌 기기들에서도 그 사용이 확대되고 있는 추세이다. 플래시 메모리가 보다 범용적인 저장 장치로 사용되기 위해서는 일반 컴퓨팅 환경에서의 복잡한 작업 부하에서도 우수한 성능을 제공할 수 있는 플래시 변환 계층(Flash Translation Layer)이 반드시 필요하다. 아쉽게도 현재까지 연구된 FTL 기법들은 소형기기의 단순한 작업 부하에 알맞도록 설계되어 있으며, 일반 컴퓨팅 환경과 같이 복잡한 작업 부하를 지닌 환경에서는 우수한 성능을 제공하지 못한다는 단점을 가지고 있다. 본 논문에서는 일반 컴퓨팅 환경의 복잡한 작업 부하에 대해서도 우수한 가비지 수집 성능을 제공하는 새로운 로그 블록 교체 기법을 제안하였다. 실험을 통한 평가 결과, 제안한 기법은 기존 기법 대비 평균 35% 정도의 가비지 수집 부하를 감소시키는 것으로 나타났다.

Keywords