Evaluation of the Temperature Variation in Wafer Final Polishing

웨이퍼 Final polishing의 온도 변화에 따른 가공 특성에 대한 연구

  • 원종구 (인하대학교 기계공학과 대학원) ;
  • 이정택 (인하대학교 기계공학과 대학원) ;
  • 이은상 (인하대학교 기계공학과) ;
  • 이상렬 (TIC 덕흥공업)
  • Published : 2007.06.20