대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)
- 대한전기학회 2007년도 제38회 하계학술대회
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- Pages.1758-1759
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- 2007
SMT라인의 자동광학검사기를 위한 부품검사 알고리즘
Component Inspection Algorithm for Automatic Optical Inspection Machines in SMT Line
- Cho, Han-Jin (Dept. of Control and Instrumentation Eng., CBITRC, Chungbuk National University) ;
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Park, Tae-Hyoung
(Dept. of Control and Instrumentation Eng., CBITRC, Chungbuk National University)
- 발행 : 2007.07.18