Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)
권호 표지

Component Inspection Algorithm for Automatic Optical Inspection Machines in SMT Line

SMT라인의 자동광학검사기를 위한 부품검사 알고리즘

  • Cho, Han-Jin (Dept. of Control and Instrumentation Eng., CBITRC, Chungbuk National University) ;
  • Park, Tae-Hyoung (Dept. of Control and Instrumentation Eng., CBITRC, Chungbuk National University)
  • 조한진 (충북대 제어계측공학과 및 충북BIT연구중심대학육성사업단) ;
  • 박태형 (충북대 제어계측공학과 및 충북BIT연구중심대학육성사업단)
  • Published : 2007.07.18
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Abstract

본 논문에서는 표면실장기판을 위한 자동 광학 검사 시스템에서 사용되는 데이터 산출방법에 대한 알고리즘을 제안 한다. 제안된 새로운 부품검사 알고리즘은 검사영역을 분할해 템플릿에서의 매칭률이 가장 높은 부분만을 세밀하게 재검사하는 방법을 사용하여 기존의 방법들보다 시간이 단축 될 뿐만 아니라 많은 양의 메모리를 필요로 하는 템플릿의 패턴들의 메모리 용량상의 문제점을 해결할 수 있다. 실험 결과를 제시하여 제안된 검사 알고리즘을 검증한다.

Keywords