영상처리 기법을 이용한 외부 전극 형광 램프(EEFL)의 기포 불량 검사 알고리즘

  • 김민관 (경북대학교 전자공학과) ;
  • 최승태 (경북대학교 전자공학과) ;
  • 류현준 (경북대학교 전자공학과) ;
  • 최태호 (경북대학교 전자공학과)
  • Published : 2006.06.21