한국정보처리학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference)
- 한국정보처리학회 2006년도 춘계학술발표대회
- /
- Pages.1341-1344
- /
- 2006
- /
- 2005-0011(pISSN)
- /
- 2671-7298(eISSN)
Extended TED 를 이용한 임베디드 시스템의 데이터 오류 감지 성능 개선
Improving Data Error Detection Performance for Embedded Systems Using Extended Temporal Error Detection (E-TED)
-
Kang Min-Koo
(Division of Industrial & Information Systems Engineering, Ajou University) ;
-
Park Kie-Jin
(Division of Industrial & Information Systems Engineering, Ajou University)
- 발행 : 2006.05.01
초록
임베디드 시스템의 신인도(Dependability)를 확보하기 위해 하드웨어적으로 여분을 두는 결함 허용(Fault-tolerant) 기법을 적용하는 것은 임베디드 시스템의 설치공간, 비용 및 전원 공급의 부족 등의 이유로 무리가 있다. 본 논문에서는 소프트웨어 결함 허용 기법의 일종인 시간 여분(Time-redundancy) 개념을 적용한 Extended Temporal Error Detection (E-TED) 기법을 연구하였으며, 실험을 통해 제안한 E-TED 기법이 기존의 TED 기법에 비해 데이터 오류의 감지 확률이 높은 것을 확인하였다.
키워드