Property of Ta-Mo Alloy as Gate Electrodes For NMOS and PMOS Silicon Devices

NMOS와 PMOS 소자에 적합한 Ta-Mo 이원 합금 게이트의 특성

Ta-Mo를 co-sputtering으로 증착하여 MOS-C(Capacitor)를 제작하였다. 열적 화학적 안정성을 판별하기 위해 $600^{\circ}C$, $700^{\circ}C$, $800^{\circ}C$ 에서 급속 열처리를 행하였고, C-V 측정으로 얻은 데이터로 평탄 전압, 일함수, EOT값을 계산 하였다. I-V 측정으로 누설 전류 특성을 파악 하였다. 위의 실험 데이터를 종합하여 폴리 실리콘 게이트를 대체할 차세대 게이트 물질로써 Ta-Mo 게이트 물질을 제안하였다.