Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2006.10d
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- Pages.203-205
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- 2006
A valve test system for series connected power semiconductor using resonant circuit
공진회로를 이용한 직렬연결 전력용 반도체 소자의 밸브 시험 시스템
- Yoo, H.H. (Hyosung Corporation) ;
- Han, Y.S. (Hyosung Corporation) ;
- Han, S.H. (Hyosung Corporation) ;
- Choi, J.Y. (Hyosung Corporation) ;
- Kim, J.M. (Hyosung Corporation) ;
-
Kim, S.Y.
(KEPRI)
;
-
Yoon, J.S.
(KEPRI)
- 유현호 ((주)효성 중공업연구소) ;
- 한영성 ((주)효성 중공업연구소) ;
- 한세희 ((주)효성 중공업연구소) ;
- 최종윤 ((주)효성 중공업연구소) ;
- 김준모 ((주)효성 중공업연구소) ;
-
김수열
(한전 전력연구원)
;
-
윤종수
(한전 전력연구원)
- Published : 2006.10.19
Abstract
대용량 인버터의 기본 구성요소인 밸브를 시험하는 방식에 대해 제안하였다. 대용량 인버터를 구성하기 위해서는 전력용 반도체 소자를 직렬로 연결하여 고전압을 스위칭할 수 있는 밸브가 필요하다. 이 밸브의 Snubber 회로의 적정성, 정격전압, 정격전류에서 정상적으로 스위칭이 이루어지는지 등의 검증이 필요하다. 본 본문에서는 전력용 반도체 소자에 이러한 시험조건을 제공하는 시험방식을 제안하였다.
Keywords