인간의 시각 특성에 기반한 LCD 영역형 얼룩의 불량 수준 측정

  • Lee, Won-Hee (Artificial Intelligence Lab., Seoul National University) ;
  • Park, No-Gap (Artificial Intelligence Lab., Seoul National University) ;
  • Choi, Kyu-Nam (Artificial Intelligence Lab., Seoul National University) ;
  • Yoo, Suk-In (Artificial Intelligence Lab., Seoul National University)
  • 이원희 (서울대학교 컴퓨터공학부 인공지능연구실) ;
  • 박노갑 (서울대학교 컴퓨터공학부 인공지능연구실) ;
  • 최규남 (서울대학교 컴퓨터공학부 인공지능연구실) ;
  • 유석인 (서울대학교 컴퓨터공학부 인공지능연구실)
  • Published : 2006.10.20

Abstract

TFT-LCD의 생산 과정에서 나오는 불량 제품의 검출은 자동화 과정에 의해 선택된 잠재적 불량 제품의 선택에 이은 인간의 목시검사에 의한 판단을 통해 이루어진다. 이러한 목시검사를 자동화하기 위해서는 불량의 식별성에 영향을 미치는 각 요소들에 대한 정량적인 분석, 그리고 각 요소들과 실제 최종적인 불량 판단 여부 사이의 체계적인 함수 관계의 파악이 필요하다. 본 논문에서는 TFT-LCD의 영역형 얼룩을 구성하는 특징적인 요소들을 정의하고, 이를 통해 불량 수준을 정의하는 수치화 함수를 유도하는 과정과, 이를 영역형 얼룩의 불량 수준 수치화에 적용한 결과를 보여 준다.

Keywords