Proceedings of the Korean Society for Quality Management Conference (한국품질경영학회:학술대회논문집)

Korean Society for Quality Management (한국품질경영학회)
권호 표지

A Study on the Chip Ferrite Bead Reliability Assessment

칩페라이트 비드의 신뢰성평가에 관한 연구

  • Kang, Bo-Chul (Reliability & Failure Analysis Center, KETI) ;
  • Cho, Jai-Rip (Dept. of Industrial Engineering, Kyung Hee University)
  • 강보철 (전자부품연구원 신뢰성평가센터) ;
  • 조재립 (경희대학교 산업공학과)
  • Published : 2006.04.08
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Abstract

칩비드는 전자제품에서 전기적 노이즈(noise)의 기기 유입에 대해 제품의 사양에 따라 일정한 전압으로 강하해주는 보호소자로서 유무선통신기기, 컴퓨터 등 소형 전자제품에 많이 쓰이고 있다. 특히 IT제품의 소형화 추세로 수요가 계속 증가되고 있는 추세이다. 따라서 본 연구에서는 국내에서 생산되는 칩비드의 대표적인 2종(1005, 1608 형)에 대한 신뢰성 평가를 위해 시험기준을 개발하고 수명시험을 통한 제품의 신뢰성에 대해 분석하였다. 특히 기존의 다양한 환경시험과 함께 고장률시험을 추가하여 제품의 수명을 예측하는데 기초자료로 활용하고자 한다.

Keywords