집속이온빔 장치를 이용한 MgO 보호막의 스퍼터링 수율 측정과 이차전자 방출계수와의 관계

  • 현정우 (광운대학교 전자물리학과) ;
  • 임연찬 (광운대학교 전자물리학과) ;
  • 정강원 (광운대학교 전자물리학과) ;
  • 정원희 (광운대학교 전자물리학과) ;
  • 박철우 (한국산업기술대학교 기계공학과) ;
  • 최은하 (광운대학교 전자물리학과) ;
  • 서윤호 (광운대학교 전자물리학과) ;
  • 강승언 (광운대학교 전자물리학과)
  • 발행 : 2005.08.18