Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference (한국정보처리학회:학술대회논문집)

  • 2005.05a
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  • Pages.635-638
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  • 2005
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  • 2005-0011(pISSN)
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  • 2671-7298(eISSN)
Korea Information Processing Society (한국정보처리학회)
권호 표지

Development of Efficient Transistor Attribute Test System

효율적인 트랜지스터 특성 검사시스템의 개발

  • Jang, Ik-Hyeon (Department of Information Communication Engineering, Dongguk University) ;
  • Noh, Seol-Hae (Department of Information Communication Engineering, Dongguk University)
  • 장익현 (동국대학교 정보통신공학과) ;
  • 노설해 (동국대학교 정보통신공학과)
  • Published : 2005.05.13
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Abstract

전자산업의 필수적인 핵심 부품은 트랜지스터이다. 현재 일본과 우리나라를 포함하여 상용화 되어 있는 모든 트랜지스터 검사시스템은 검사 대상 소자 별로 별도의 검사기를 가지고 있다. 개발된 시스템은 하나의 검사시스템으로 3대의 트랜지스터 검사기를 동시에 제어할 수 있어 가격 경쟁력을 가지며, 여러 종류의 트랜지스터를 동시에 시험할 수 있는 융통성도 제공한다. 기존의 시스템에서 불필요하게 중복되는 부분을 통합하여 효율성을 더 높였으며, 3대의 검사기를 동시에 제어하기 위하여 우선순위를 지원하는 토큰 교환 방식을 사용하였다.

Keywords