Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2005.11a
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- Pages.133-135
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- 2005
Reliability Properties of Multilayer Chip NTC Thermistor on Manufacturing Process
제조공정에 따른 적층형 칩 NTC 써미스터 신뢰성 특성
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Yoon, Jung-Rag
(SAMWHA Capacitor Co. Ltd.)
;
- Yoo, Jang-Young (SAMWHA Capacitor Co. Ltd.) ;
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Lee, Hen-Young
(Myoung University)
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Yeo, Dong-Hun
(KICET)
- Published : 2005.11.04
Abstract
Mn-Co-Ni-O계를 적용한 적층 칩 NTC 써미스터의 소성온도 및 냉각 조건에 따른 전기적 특성을 연구하였다. 특히, 소결조건에 따른 저항, B-정수의 경시 변화 특성으로부터 제품의 신뢰성 측면을 검토하였다. 소결온도 및 시간에 의한 영향보다는 냉각속도에 따른 초기 저항 및 B-정수의 변화가 크게 나타났으며 냉각속도를 조절한 시편에서 경시변화율은 1%이하인 특성을 얻을 수 있었다.
Keywords