Inductively Coupled $Ar/Cl_2$ Plasma Analysis with Quadrupole Mass Spectrometer (QMS)

사중극자 질량분석기(QMS)를 이용한 $Ar/Cl_2$ 유도결합 플라즈마 분석

  • Kim, Jong-Gyu (Chung Ang Univ. Electrical and Electronical Engineering) ;
  • Kim, Gwan-Ha (Chung Ang Univ. Electrical and Electronical Engineering) ;
  • Lee, Cheol-In (Ansan College of Tech. Electrical Engineering) ;
  • Kim, Chang-Il (Chung Ang Univ. Electrical and Electronical Engineering)
  • 김종규 (중앙대학교 전자전기공학부) ;
  • 김관하 (중앙대학교 전자전기공학부) ;
  • 이철인 (안산공대 전기과) ;
  • 김창일 (중앙대학교 전자전기공학부)
  • Published : 2005.11.04

Abstract

$Cl_2$ 플라즈마에 있어서 Ar 가스의 첨가에 의한 효과를 보기 위해 Ar 첨가 비율 rf 전력, 반응로 압력을 변화시켜가며 그 에너지와 질량을 분석하였다. Ar 첨가 비율에 따른 각 입자들의 질량 분석을 통해서, Ar의 비율이 80% 일 때 물리적, 화학적 반응이 최대가 되는 것을 확인하였다. 또한 Ar 첨가 비율에 따른 각 이온들의 에너지 분석을 통해, Ar 가스의 첨가에 의해 $Cl^+$$Cl_2^+$ 이온들의 이온 선속은 증가하나 그 에너지가 감소하는 것을 확인하였다. 반응로 압력과 rf 전력의 제어를 통해 이온 전류밀도, 이온 에너지와 전자온도를 제어 할 수 있음을 확인하였고, Ar 첨가 비율을 변화시키면서 전자 밀도 분포 함수의 변화를 관찰하여 이를 통해 Ar 비율에 따른 이온화 비율과 전자 온도, 밀도 등의 관계를 확인하였다.

Keywords