Effective Test Set Selection Methodology using Orthogonal Array and Equivalence Class

Orthogonal Array와 Equivalence Class를 이용한 효율적인 Test Set 생성 기법

  • Kim, Eun-Hee (System R&D Laboratories, Samsung Electronics Co. Ltd.) ;
  • Yeo, Gi-Dae (System R&D Laboratories, Samsung Electronics Co. Ltd.)
  • Published : 2005.07.01

Abstract

최근 소프트웨어 가 점 점 복잡해 짐 에 따라 다양한 상황에 대한 테스트의 중요도도 함께 증가하지만, 다양한 상황을 모두 고려하여 테스트하는 것은 많은 시간과 비용을 요구한다. 본 논문에서는 이러한 복잡한 시스템의 테스트를 위해 Orthogonal Array와 Equivalence Class 기법을 이용하여 test suite의 중복성을 낮추는 효율적인 test set을 생성하는 기법을 제안한다. 이렇게 제안된 기법을 OMA DRM(Digital Rights Management) System에 적용한 사례를 통해 기법의 우수성을 보인다.

Keywords