Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference (한국전기전자재료학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers (한국전기전자재료학회)
권호 표지

Reliability evaluation technique of High voltage power semiconductor Devices

대용량 전력반도체 소자의 열화진단

  • Kim, Hyoung-Woo (Korea Electrotechnology Research Institute, Power Semiconductor Group) ;
  • Seo, Kil-Soo (Korea Electrotechnology Research Institute, Power Semiconductor Group) ;
  • Kim, Sang-Cheol (Korea Electrotechnology Research Institute, Power Semiconductor Group) ;
  • Bahng, Wook (Korea Electrotechnology Research Institute, Power Semiconductor Group) ;
  • Kim, Ki-Hyun (Korea Electrotechnology Research Institute, Power Semiconductor Group) ;
  • Kim, Nam-Kyun (Korea Electrotechnology Research Institute, Power Semiconductor Group) ;
  • Kim, Eun-Dong (Korea Electrotechnology Research Institute, Power Semiconductor Group)
  • 김형우 (한국전기연구원 전력반도체그룹) ;
  • 서길수 (한국전기연구원 전력반도체그룹) ;
  • 김상철 (한국전기연구원 전력반도체그룹) ;
  • 방욱 (한국전기연구원 전력반도체그룹) ;
  • 김기현 (한국전기연구원 전력반도체그룹) ;
  • 김남균 (한국전기연구원 전력반도체그룹) ;
  • 김은동 (한국전기연구원 전력반도체그룹)
  • Published : 2004.11.11
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Abstract

전력계통 분야에서는 HVDC 전력변환소, BTB, UPFC 및 SVC의 안정성 향상 및 안정적인 운용을 위한 체계적인 유지보수 및 관리가 필요하다. 특히 전력계통에 접속된 대용량 전력반도체 소자인 사이리스터 밸브는 운전중에 열적, 전기적인 스트레스를 받게 되며, 이로 인해 밸브의 수명이 감소하여 전력계통의 안정적인 운용을 어렵게 만드는 요인이 된다. 따라서 전력계통 운용의 안정성을 확보하기 위해서는 대용량 사이리스터 밸브의 열적, 전기적 스트레스에 따른 수명 변화를 예측하는 열화진단 기법의 개발이 중요하다. 본 고에서는 대용량 사이리스터 소자의 열화진단 기법에 대한 국내외 현황과 현재 연구가 진행중인 열화 진단 기법에 대해 서술하였으며, 1500V급 사이리스터 소자의 가속열화 실험을 통해 소자의 수명을 예측한 결과를 나타내었다.

Keywords