Reliability Analysis of MLCC Degradation Data based on Eyring Model

아이링 모델에 기초한 MLCC 열화데이터의 신뢰성 해석

Accelerated degradation test (ADT) can be a useful tool for assessing the reliability when few or even no failure are expected in an accelerated life test. In this paper, MLCC (Multilayer Ceramic Capacitors), a sort of passive components which have large capacitance(X7R -55$^{\circ}C$~1$25^{\circ}C$) have been tested, and least-square analyses are used to illustrate our approach in which amount of degradation of a DUT following log-normal distribution. We assumed a simple and useful linear model to describe the amount of degradation over time subjected to different voltage levels applied. Tests for linearity of the performance-time relationship, and provide tests for how well the assumptions hold. Also, by using Eyring Model, MLCC's mean life time is assessed.

가속열화시험은 가속수명시험시에 고장 개수가 적거나 심지어 고장이 발생하지 않는 경우에도 부품의 신뢰성을 평가할 수 있는 유용한 수단이 되고 있다. 본 연구에서는, 능동소자로 높은 유전용량을 갖는 적층 세라믹 콘덴서(X7R -55$^{\circ}C$~1$25^{\circ}C$)에 대한 가속열화시험을 실시하고, 정격온도의 최대치에서 다른 배율의 전압을 인가하여 단순선형회귀에 의한 특성치의 경시변화를 설명한다고 가정하였다. 최소제곱법을 적용하여 시료가 대수정규분포를 따를 때의 열화량을 설명한 후, 특성치-시간간의 선형관계 및 대수정규분포의 독립성을 검정하여 가정의 적절성을 검정하였다. 마지막으로 아이링모델에 의한 평균수명을 평가하였다.