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한국전자현미경학회:학술대회논문집
2003.05a
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Pages.78-79
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2003
Korean Society of Microscopy (한국현미경학회)
Analysis of Crystallographic Properties of SMC poly Si by EBSD technique
EBSD를 이용한 SMC 다결정 Si의 결정 특성 분석
Kim, Dong-Ik
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O, Gyu-Hwan
;
Lee, Hu-Cheol
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Son, U-Seong
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Jang, Yeong-Jin
;
Jang, Jin
김동익
(서울대학교 재료공학부) ;
오규환
(서울대학교 재료공학부) ;
이후철
(서울대학교 재료공학부) ;
손우성
(경희대학교 물리학과) ;
장영진
(경희대학교 물리학과) ;
장진
(경희대학교 물리학과)
Published : 2003.05.01
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