Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference (한국정보통신학회:학술대회논문집)
- 2003.10a
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- Pages.818-823
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- 2003
Novel Defect Testing of RF Front End Using Input Matching Measurement
입력 매칭 측정을 이용한 RF Front End의 새로운 결함 검사 방법
Abstract
본 논문에서는 입력 매칭(input matching) BIST(Built-In Self-Test) 회로를 이용한 RF font end의 새로운 결함 검사방법을 제안한다. BIST 회로를 가진 RF front end는 1.8GHz LNA(Low Noise Amplifier: 저 잡음 증폭기)와 이중 대칭 구조의 Gilbert 셀 믹서로 구성되어 있으며, TSMC 0.25
Keywords