Proceedings of the IEEK Conference (대한전자공학회:학술대회논문집)
- 1998.06a
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- Pages.795-798
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- 1998
A new IEEE1149.1 boundary scan design for the detection of delay faults
지연고장 점검을 위한 IEEE1149.1 바운다리 스캔설계
Abstract
IEEE1149.1 바운다리스캔은 칩과 칩간의 연결선상에서 발생가능한 지연고장을 점검 할 수 없게 설계되어있다. 칩에서 패턴을 주입하는 UpdateDR과 연결선을 통해서 전달된 결과 값을 관측하는 captureDR간의 간격이 ITCK가 되도록 UPdaeDR을 변경하는 기술보다 동작속도 및 추가영역면에서 최적임을 보여준다.
Keywords