Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)
권호 표지

Accelerated Deterioration Test Method of High Power Thyristor for HVDC

전력계통용 대용량 사이리스터의 가속열화 시험법

  • Seo, K.S. (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
  • Kim, S.C. (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
  • Kim, N.K. (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
  • Kim, H.W. (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
  • Kim, E.D. (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute)
  • 서길수 (한국전기연구원, 전력반도체그룹) ;
  • 김상철 (한국전기연구원, 전력반도체그룹) ;
  • 김형우 (한국전기연구원, 전력반도체그룹) ;
  • 김남균 (한국전기연구원, 전력반도체그룹) ;
  • 김은동 (한국전기연구원, 전력반도체그룹)
  • Published : 2003.07.21
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Abstract

본 논문에서는 현재 대용량 전력변환 소자인 사이리스터는 해남-제주간의 HVDC변환소에 채용되어 운전중에 있고, BTB 및 SVC등에 채용되고 있으며, 향후 FACTS, 남북 전력계통연계, 동북아 계통연계 등 전력변환용으로 사용될 부품으로 사용범위가 날로 증가하고 있는 2,208개의 사이리스터의 수명 및 신뢰성을 평가하기 위해 고온직류 blocking 가속열화시험조건에 대해서 기술하였다.

Keywords