게이트 전극 형성 적용을 위한 $TiN/HfO_{2}/Si$ 구조의 계면 형성과 전기적 특성에 관한 연구

  • 안영섭 (성균관대학교 재료공학과) ;
  • 반상현 (성균관대학교 재료공학과) ;
  • 이내응 (성균관대학교 재료공학과) ;
  • 강혁수 (성균관대학교 전기 전자 및 컴퓨터 공학부) ;
  • 노용한 (성균관대학교 전기 전자 및 컴퓨터 공학부)
  • Published : 2002.02.19