A Method for the Effective Test-Case Generation using MDD

MDD를 이용한 효율적인 테스트 케이스 생성 방법론 연구

복잡한 하드웨어 및 소프트웨어를 설계함에 있어 그 안정성에 대한 보장이 매우 중요하다. 이를 위해 정형 검증이나 테스팅과 같은 많은 기법을 활용하고 있다. 그러나 안정성 검증을 위해 시스템을 모델링하고 데스트 케이스를 만드는 과정에서 상태 폭발에 따른 메모리의 한계에 부딪히게 된다. 본 논문에서는 이러한 문제를 해결하고, 메모리를 효율적으로 이용할 수 있는 탐색방법을 이용한 데스트 케이스 생성 알고리즘을 제안한다.