Nanoindentation-Scanning Probe Microscope Analysis of thin film materials by using Berkovich and Vickers indenter

베르코비치와 비커스 압자를 이용한 박막재료의 나노인덴테이션-주사탐침현미경 분석

  • 김봉섭 (경남대학교 대학원 재료공학과) ;
  • 김지수 (경남대학교 대학원 재료공학과) ;
  • 윤존도 (경남대학교 대학원 재료공학과)
  • Published : 2002.05.01