Real time control of Ge-Sb-Te multi-layer as optical recording media using in situ ellipsometry

In-situ Ellipsometer를 사용한 광기록매체용 Ge-Sb-Te 다층박막성장의 실시간 제어

  • 김종혁 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
  • 이학철 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
  • 김상준 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
  • 김상열 (아주대학교 분자과학기술학과)
  • Published : 2002.11.01