Siroquant 프로그램을 이용한 X-선 회절분석법의 정량화연구

  • 송윤섭 (한국기초과학지원 연구원, 서울대학교 지구환경과학부) ;
  • 박찬수 (한국기초과학지원 연구원, 서울대학교 지구환경과학부)
  • 발행 : 2002.05.01