한국정보처리학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference)
- 한국정보처리학회 2001년도 춘계학술발표논문집 (상)
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- Pages.255-258
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- 2001
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- 2005-0011(pISSN)
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- 2671-7298(eISSN)
Test System용 가상기계 설계
Design of a Virtual Machine for the Test System
- Kouh, Hoon-Joon (Dept. Of Computer Science Engineering, Inha University) ;
- Ahn, Yong-Koun (Dept. Of Computer Science Engineering, Inha University) ;
- Jo, Sun-Moon (Dept. Of Computer Science Engineering, Inha University) ;
- Yoo, Weon-Hee (Dept. Of Computer Science Engineering, Inha University)
- 발행 : 2001.04.13
초록
테스트 시스템(Test System)은 반도체 제품을 웨이퍼(Wafer) 또는 완성된 제품 상태 하에서 전기적 특성과 성능을 검사하고 그 결과를 산출해내는 검사장치이다. 테스트 시스템은 크게 하드웨어와 소프트웨어로 이루어져 있으며 시스템을 제어하고 사용자 인터페이스 및 각종 자료를 처리하는 소프트웨어는 그 중요성이 한층 더 부각되고 있다. 그러나 국내 고성능의 테스트 시스템을 개발하는 기업들의 하드웨어 개발은 잘 이루어지고 있으나 소프트웨어의 개발은 어려운 실정이다. 본 논문에서는 테스트 시스템에서 사용하고 있는 테스트 프로그램의 문제점을 지적하고, 문제점을 해결할 수 있는 가상기계를 설계한다. 그리고 가상기계를 테스트 관리 프로그램 내에 내장하여 테스트관리 시스템의 소프트웨어를 향상시키고자 한다.
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